반도체 공부 기록

[반도체공학] 11. The semiconductor in Equilibrium (2) 본문

반도체공학

[반도체공학] 11. The semiconductor in Equilibrium (2)

Semi컨덕터 2024. 3. 31. 18:57

The semiconductor in Equilibrium


 

♭ The Intrinsic Carrier Concentration

Thermal equilibrium 상태에서 Electron & Hole의 농도는 Fermi-level과 DOS(Density of state)에 의해 결정되고, Intrinsic semiconductor의 Carrier 농도는 Electron과 Hole의 농도를 통해 추산할 수 있다.

https://mse-semi.tistory.com/entry/%EB%B0%98%EB%8F%84%EC%B2%B4%EA%B3%B5%ED%95%99-10-The-Semiconductor-in-Equilibrium-1

 

[반도체공학] 10. The Semiconductor in Equilibrium (1)

The Semiconductor in Equilibrium 참고사항: $\overline{h}$ 디렉 상수 ħ를 의미합니다. ♭ Equilibrium Distribution of Electron & Hole 반도체 소자는 전압 인가에 따라 전류가 흐르게 되는데, 이 전류는 Electron과 Hole 두

mse-semi.tistory.com

1. Electron concentration: $ n_{0}=n_{i}=N_{c}\cdot exp[\frac{-(E_{c}-E_{Fi})}{kT}] $

 

2. Hole concentration: $  p_{0}=p_{i}=N_{v}\cdot exp[\frac{-(E_{Fi}-E_{v})}{kT}] $

 

$$ → n_{i}^2=n_{0}\cdot p_{0}=N_{c}N_{v}\cdot exp[\frac{-(E_{c}-E_{v})}{kT}]=N_{c}N_{v}\cdot exp[\frac{-E_{g}}{kT}] $$

 

ni2 값으로 Intrinsic Carrier concentration을 계산할 수 있다. T = 300K 에서의 실리콘(Eg = 1.12eV)에 대한 Intrinsic carrier concetration(ni)을 계산하면 ni = 6.95 × 109 cm-3이다. 

1. Effective mass

Effective mass는 결정 내부에서 입자가 얼마나 잘 운동하는지에 대한 파라미터로 실험적으로 결정된다.

2. Desity of state(DOS)

DOS는 3차원 Infinite well에서 전자에 존재할 수 있는 Energy state에 대한 값이다. 대부분 실험값과 이론값이 약 2배가 차이가 있지만 중요하지 않다.

 

→ Intrinsic carrier concentration(ni)는 Effective mass와 DOS에 의해 결정되는데, 주어진 온도/재료에서는 ni 값은 상수로 결정된다.

  Nc(cm-3) Nv(cm-3) mn*/m0 mp*/m0 ni(cm-3)
Silicon
(Si)
2.8 × 1019 1.04 × 1019 1.08 0.56 1.5 × 1010
Gallium arsenide
(GaAs)
4.7 × 1017 7.0 × 1018 0.067 0.48 1.8 × 106
Germanium
(Ge)
1.04 × 1019 6.0 × 1018 0.55 0.37 2.4 × 1013

 

♭ The Intrinsic Fermi-level position

Fermi level의 정의에 따라 EF는 Bandgap의 정중앙에 위치한다. Intrinsic Fermi-level의 위치는 Intrinsic semiconductor의 특징인 Electron과 Hole의 농도가 일치한다는 것에서 시작한다. (ni=pi)

$$N_{c}[\frac{-(E_{c}-E_{Fi})}{kT}]=N_{v}[\frac{-(E_{Fi}-E_{v})}{kT}]$$

수식을 EFi에 대하여 정리

$$ E_{Fi}=\frac{1}{2}(E_{c}+E{v})+\frac{1}{2}kTln(\frac{N_{v}}{N_{c}}) $$

$$ → E_{Fi}=\frac{1}{2}(E_{c}+E{v})+\frac{3}{4}kTln(\frac{m_{p}^*}{m_{n}^*}) $$

($N_{c}=2(\frac{2\pi m_{n}^*kT}{h^2})^{3/2}$, $ N_{v}=2(\frac{2\pi m_{p}^*kT}{h^2})^{3/2}$)

 

$$\frac{1}{2}(E_{c}+E_{v})=E_{midgap}$$

$$ → E_{Fi}-E_{midgap}=\frac{3}{4}kTln(\frac{m_{p}^*}{m_{n}^*}) $$

 

Hole과 Electron의 Effective mass의 차이에 의해 Intrinsic Fermi-level의 위치가 결정된다.

1. Electron = Hole: Bandgap의 정중앙에 Intrinsic Fermi-level이 위치한다.

2. Electron > Hole: Bandgap의 중앙보다 높은 영역에 Intrinsic Fermi-level이 위치한다.

3. Electron < Hole: Bandgap의 중앙보다 낮은 영역에 Intrinsic Fermi-level이 위치한다.

→ Density of state(DOS)는 Carrier(Electron or Hole)의 Effective mass에 직접적으로 연관되어 있다. Effective mass가 클수록 DOS가 크다는 것을 의미한다. 

($N_{c}=2(\frac{2\pi m_{n}^*kT}{h^2})^{3/2}$, $ N_{v}=2(\frac{2\pi m_{p}^*kT}{h^2})^{3/2}$)

따라서 Hole과 Electron의 농도가 일정할 때, Effective mass가 클수록 Intrinsic Fermi-level은 Bandgap의 정중앙에서 멀리 위치한다.

<출처>
Donald A. Neaman, "Semiconductor physics and device" 4th edition.
 

오류가 있다면 지적해주시면 감사하겠습니다 :)